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如何在高速信号中快速定位故障,进行PCIe失效分析

在服务器、PC等电子设备主板的生产中,往往会出现产线的故障,需要失效分析工程师(FA)以及维修工程师(RMA)去快速定位生产过程当中的故障件,特别是一些高速信号的故障。在整个过程中,往往需要面临很多的压力和责任,比如:

但是要应对这些压力,往往也对工程师提出了很高的要求。目前来看FA/RMA工程师由于工作性质问题,要去应对上面的挑战往往也很棘手,特别是高速信号相关的故障,而且由于高速信号的特殊性,这类信号也容易出问题,其中PCIe信号是其中的典型。

主要原因:

因此FA/RMA工程师需要在严苛的客户投诉、产线运转时间中,能够有足够的手段以及尽可能低的学习成本,快速验证诸如PCIe高速总线的故障,从而能够更快更好的给RD提出有效的反馈,甚至能够推动RD优化设计,确保团队能够得到持续的正向发展和评价。

图1. 泰克新一代TMT4 PCIe性能综合测试仪

针对上面提到的FA/RMA工程师所遇到的挑战,泰克推出了新一代的TMT4 PCIe性能综合测试仪。

图 2. 丰富的硬件接口形式,应对各种产品形态

这台仪器集成了丰富、便捷的功能,直达PCIe 信号链路、物理层细节信息,直观的图示有利于工程师学习和掌握:

图3. 专业级的PCIe物理层Tx/Rx分析

通过TMT4 PCIe性能综合测试仪,整个FA/RMA工程师团队可以在短短1-2分钟内提交全面的PCIe链路的发射机和接收机的测试结果,从而能够给出专家级的分析报告;因此也能够帮助工程师更快的对客户投诉做出反馈,以及帮助工程师快速确定问题所在,确保产线正常运转,最大程度提升工程师价值以及降低产线成本。

文章来自:https://www.eet-china.com/

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